![]() | XTD-20A体视显微镜是一款工具型的显微镜,它卓越的饿对比度,大景深及高分辨率,广泛应用于农林地质、文教科研、珠宝、电子、精密机械等行业和部门,适用于自然领域或工程领域三维物体的观察及在轻工业领域的,也是教育和科研单位的标准配备工具。 |
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![]() | XTZ-D连续变倍体视显微镜XTZ-D系列双目连续变倍体视显微镜变采用内斜光路的光路系统,变倍比1:6.5,变倍范围:0.7×~4.5×,可选配各种目镜、辅助物镜,适用于教学生物解剖、电子工程、地质矿产、农林植保、公安刑侦、珠宝鉴定等领域的观察和研究。 |
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![]() | XTZ-2C连续变倍体视显微镜XTZ-2C系列连续变倍体视显微镜变采用内斜光路的光路系统,变倍比8:1,变倍范围:0.8×~6.4×,可选配各种目镜、辅助物镜,灯源,适用于教学生物解剖、电子工程、地质矿产、农林植保、公安刑侦、珠宝鉴定等领域的观察和研究。 |
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![]() | WFL-3000 DIC微分干涉相衬显微镜WFL-3000 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 |
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![]() | WF-100微分干涉数码显微镜WF-100型微分干涉数码显微镜是一款性价比非常高的检测用光学仪器。采用优良的无限远光学成像系统,内置LED高亮度照明器,引入了微分干涉显微观察功能。 |
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![]() | WF-200微分干涉显微镜WF-200工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。 |
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![]() | WFL-300DIC微分干涉相衬显微镜WFL-300 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 |
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![]() | XZB-4C比较显微镜XZB-4C比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-5比较显微镜XZB-5比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-5B比较显微镜XZB-5B比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-5C比较显微镜XZB-5C比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-5D比较显微镜XZB-5D比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-6比较显微镜XZB-6比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-6A比较显微镜XZB-6A比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-6B比较显微镜XZB-6B比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-8A比较显微镜XZB-8A比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-8比较显微镜XZB-8比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-8B比较显微镜XZB-8B比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-8F比较显微镜XZB-8F比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-9比较显微镜XZB-9比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-9A比较显微镜XZB-9A比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-9B比较显微镜XZB-9B比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-10比较显微镜XZB-10比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-14比较显微镜XZB-14比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-14A比较显微镜XZB-14A比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-7立体显微镜XZB-7比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-12A数码比较显微镜XZB-12A数码比较显微镜,是一家专业的数码比较显微镜厂家,由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异. |
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![]() | XZB-12B比较显微镜XZB-12B比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | XZB-12数控比较显微镜XZB-12比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰,分辨率高,因此可鉴别其微小差异。 |
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![]() | RQZ-120NS数码显微镜数码显微镜是显微镜的一次革新,突破了显微镜功能的极限,开创了显微技术的新纪元!通过对显微镜光路的重新设计,在显微镜的第三目植入CMOS传感器,通达CMOS接受图象,再以数字信号怕形式传送到电脑中,在电脑显示器中真实地再现图象。数码技术在显微镜中的应用,使显微镜的应用更加广泛。为数码显微镜而专门开发的图象测量软件,让使用者对图象数据一目了然,显示在电脑显器中的图象比您在目镜中看到的图象增大了几佰倍乃至上仟倍,使您对标本的观察更清晰,更方便。 |
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