7XB Large-Stage IC Inspection Metallurgical Microscope

7XB大平台集成电路检测金相显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的，配有大移动范围的载物台、图像清晰，衬度好。是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业显微镜使用。
性能特点：
超大型载物台，样品可以大范围的快慢速移动，扩大检测领域的使用范围；
技术参数：
1、目镜筒：双目镜
2、目镜:10X（18）；
3、金相物镜：
a、放大倍数：4X、10X、20X、40X；
b、数值孔径(N.A):0.10、0.25、0.40、0.65；
c、有效工作距离(mm):17.912、6.544、1.05、0.736；
4、介 质:干；
5、物镜转换器：四孔式；
6、总放大倍率:40X-400X；
7、载物台面积:350mm*255mm，移动范围200*200mm；
8、粗微动调焦范围25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值2um；
9、光源：卤素灯6V20W，内藏式连续调光电源；
标准配置：
1、主机：1台；
2、观察镜筒：1只；
3、10目镜：1对；
4、物镜：4、10、20、40X各一只；
5、卤素灯泡：1只；
6、合格证、保修卡、说明书：1套；
选购件：
长距物镜：50、80、100X；
数码适配镜、数码相机；
目镜：12.5X、10X分划；